ЕТКС. Контролер оптических деталей и приборов (3-й разряд)

Характеристика работ. Контроль, приемка и выявление дефектов оптических деталей и приборов средней сложности с использованием оптических угломеров, рычажно-механических приборов, гониометра, индикаторного сферометра, элементарного интерферометра, микроскопа и других аналогичных по сложности измерительных приборов и инструментов.

Должен знать: условия приемки и методы контроля оптических приборов и узлов средней сложности; основные типы и марки цветного оптического стекла; свойства бесцветного и цветного оптического стекла; ОСТы на покрытия и просветления оптических деталей; статический и динамический способы балансировки деталей и узлов оптических приборов; элементарные сведения по геометрической оптике; систему допусков и посадок, квалитеты, параметры шероховатости и классы чистоты обработки.

Примеры работ

1. Бинокли - контроль внешнего вида, параллельности осей трубок оси шарнира, проверка оптических характеристик, выписка паспортов.

2. Детали оптические всех типов с размером большей стороны или диаметра до 500 мм - контроль стекла по пузырности 2 - 3 категорий и бессвильности.

3. Детали оптические всех типов с размером большей стороны или диаметра свыше 500 до 1500 мм - контроль после фрезерования или грубого шлифования.

4. Детали оптические всех типов с размером большей стороны или диаметра до 250 мм с защитными, отражающими и просветляющими покрытиями - контроль длины волны и качества покрытия.

5. Заготовки оптического стекла - контроль двойного лучепреломления.

6. Клинья, пластины и призмы всех размеров - контроль линейных размеров после полирования по 8 - 9 квалитетам, на клиновидность, углы и пирамидальность с точностью свыше 30 секунд до 1 минуты.

7. Линзы, пластины с размером большей стороны или диаметра до 500 мм, блоки из линз или пластин с размером большей стороны или диаметра до 250 мм - контроль чистоты полированных поверхностей по III - V классам и децентрировки с допуском свыше 0,01 до 0,02 мм.

8. Микроскопы - контроль перпендикулярности кольца конденсора относительно оси тубуса.

9. Микроскопы - контроль плоскостности поверхности столика и шайбы прибора.

10. Сетки и шкалы - контроль точности нанесения делений с допуском свыше 0,01 до 0,05 мм.

11. Фотошкалы пленочные массового производства - контроль чистоты полированных поверхностей по III - V классам.